納米粒度電位儀是一種集粒度分析與Zeta電位測量功能于一體的精密儀器,廣泛應用于納米材料研發、制藥工業、生物大分子分析及環境監測等領域。其核心技術基于動態光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)和靜態光散射(SLS)三種光散射原理,可實現納米顆粒粒徑分布、表面電荷特性及分子量的同步表征。
動態光散射技術通過檢測顆粒布朗運動引起的散射光強度波動,結合斯托克斯-愛因斯坦方程計算流體力學半徑,粒徑檢測范圍覆蓋0.3納米至10微米,分辨率達0.3納米。電泳光散射技術利用外加電場下顆粒的遷移率,通過相位分析光散射(cm-PALS)技術精確測量Zeta電位,電位測量范圍可達±1000mV,有效評估膠體體系穩定性。靜態光散射模塊則通過分析散射光強與角度的關系,直接測定高分子物質的絕對分子量及第二維利系數。
1、徹d清洗樣品池:
比色皿型(玻璃或石英池):
測量結束后,立即倒出樣品。
用大量去離子水反復沖洗3-5次,確保無殘留。
對于蛋白質、聚合物等易吸附樣品,可用稀釋的清洗液(如0.2%SDS溶液、實驗室專用清洗劑)浸泡10-15分鐘,再用去離子水徹d沖洗至中性。
最后用乙醇或丙酮潤洗(有助于快速干燥并去除有機殘留),然后用氮氣或壓縮空氣吹干,或倒置在潔凈容器中自然晾干。
流通池或自動進樣器池:
執行儀器自帶的“清洗程序”,使用去離子水或指定清洗液循環沖洗管路和池體。
確保清洗液流經所有接觸樣品的通道。
2、清潔電極(Zeta電位測量專用):
Zeta電位測量使用的電泳池內有金屬電極(通常為鉑電極)。
每次使用后,必須用去離子水徹d沖洗電極表面,防止樣品沉積導致電極鈍化或污染。
定期(如每周)用稀硝酸(如10%)短時間浸泡電極(不超過5分鐘),以去除金屬氧化物或頑固沉積物,之后必須用大量去離子水沖洗干凈。
避免電極受到物理刮擦。
3、清潔儀器外部與載物臺:
用柔軟的無塵布擦拭儀器外殼和樣品倉。
用蘸有去離子水的棉簽輕輕清潔載物臺和定位槽,防止灰塵影響光路對準。
4、關閉儀器與防塵:
按規程正常關機。
蓋上儀器防塵罩,防止灰塵進入光學系統。
